Home
Search
Katalog & Koleksi
Katalog
Informasi
Turnitin FeedBack Studio: Panduan Cepat untuk Akun Instruktur
Pemilihan Jurnal untuk Publikasi Ilmiah
Akses Eikon Refinitiv
Tata Cara Approval Laporan Magang & KP
Tata Cara Upload Laporan Magang & KP
Fitur Mobile App: Layanan Book Delivery
Peraturan Tel-U Open Library
Sumber Daya Informasi Pendukung Kegiatan Penelitian
Surat Bebas Kewajiban Perpustakaan (SBKP)
Layanan Assistive Technology
Tentang Kami
Tahun Terbit
Testing and reliable design of cmos circuits
Niraj K & Sandip Kundu JHA
Informasi Dasar
Dilihat
54 kali
No. Katalog
0004857
Klasifikasi
621.382 015118
Jenis katalog
Buku - Circulation (Dapat Dipinjam)
No. Rak
Tel-U Gedung Manterawu Lantai 5 : Rak 13a
Tel-U Purwokerto : Rak 6
Abstraksi
Subjek
Subjek utama
Electromagnetism - electric
Subjek tambahan
Katalog
Judul
Testing and reliable design of cmos circuits
ISBN
792390563
Kolasi
xii, 231 hal.; gamb.; ind.; 24
Bahasa
Sirkulasi
Harga pinjam
Rp. 0
Biaya denda
Rp. 1.000
Sirkulasi
Ya
Pengarang
Nama
Niraj K & Sandip Kundu JHA
Jenis
Perorangan
Penyunting/
Pembimbing
Alih bahasa
Penerbit
Nama
kluwer academis pub.
Kota
Boston
Tahun
1990
Koleksi
Total
2 Koleksi
Tersedia
2 Koleksi
Kompetensi
Tidak ada
Download / Flippingbook
Link file
Rekomendasi
Ulasan
Belum ada ulasan yang diberikan
anda harus sign-in untuk memberikan ulasan ke katalog ini
Kembali