Home
Search
Katalog & Koleksi
Katalog
Informasi
Pemilihan Jurnal untuk Publikasi Ilmiah
Peraturan Tel-U Open Library
Sumber Daya Informasi Pendukung Kegiatan Penelitian
Surat Bebas Kewajiban Perpustakaan (SBKP)
Layanan Assistive Technology
Fasilitas Cek Similarity, iThenticate dan Turnitin
Cara Akses Scopus
Standar Layanan Open Library
Cara Akses Koleksi Electronic Book Open Library
Layanan Document Delivery Service
Tentang Kami
Tahun Terbit
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Smita Krishnaswamy, Igor L. Markov, John P. Hayes
Informasi Dasar
No. Katalog
16.21.602
Klasifikasi
621.319 2
Jenis katalog
Buku - Elektronik (E-Book)
No. Rak
12a
Abstraksi
Subjek
Subjek utama
Circuits
Subjek tambahan
LOGIC DESIGN
Katalog
Judul
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
ISBN
978-90-481-9644-9
Kolasi
Bahasa
English
Sirkulasi
Harga pinjam
Rp. 0
Biaya denda
Rp. 0
Sirkulasi
Tidak
Pengarang
Nama
Smita Krishnaswamy, Igor L. Markov, John P. Hayes
Jenis
Perorangan
Penyunting/
Pembimbing
Alih bahasa
Penerbit
Nama
Springer Netherlands
Kota
Tahun
2013
Koleksi
Total
1 Koleksi
Tersedia
1 Koleksi
Kompetensi
TTI2G1 - PRAKTIKUM TEKNIK TELEKOMUNIKASI 1
TEI2A4 - RANGKAIAN LISTRIK A
Download / Flippingbook
Link file
E - Book (ebook.pdf)
diunduh 44 kali
Rekomendasi
Ulasan
Belum ada ulasan yang diberikan
anda harus sign-in untuk memberikan ulasan ke katalog ini
Kembali